7800 ICP-MS

7800_ICP-MS_1

Egyesíti a már bevált, robusztus hardvert, az automatikus optimalizálási eszközöket és az előre megírt módszereket, melyek egyszerűbbé teszik a rutin analitikai méréseket.

Készülékjellemzők

Az Agilent 7800 ICP-MS egyesíti a már bevált, robusztus hardvert, az automatikus optimalizálási eszközöket és az előre megírt módszereket, melyek egyszerűbbé teszik a rutin analitikai méréseket. A magas mátrixtolerancia, széles dinamikus tartomány és a poliatomos interferenciák hatékony szabályozása révén a hardver kivonja a bizonytalansági faktort a komplex vagy változó mátrixú minták analíziséből. A 7800 ICP-MS beállítása és használata egyszerű, így rövid időn belül hozhat megbízható eredményeket a legszélesebb körű mintatípusok esetében is.

  • Rutin fémelemzés gyors nyomon követése – Az ICP-MS MassHunter szoftver előre megírt módszereket tartalmaz, amelyek egyszerűen betölthetők és futtathatók előre megadott beállításokkal, a plazma körülményektől az analit inergrációs időn át a belső standardekig. Új módszerek esetében a Módszer varázsló a módszert a minta típusát és alkalmazását alapul véve építi fel. Tudjon meg többet az ivóvízéről, a környezetvédelmi hulladékról és az elemi szennyeződésekről a gyógyszeripari termékekben.
  • Egyszerűbb, rövid idejű minta előkészítés – Az egyedülálló HMI (High Matrix Introduction) technológia, magas TDS tartalmú minták plazmába juttatását segíti elő, mely alapvető a 7800 ICP-MS készülékekben, lehetővé teszi a 3% szárazanyag tartalmú minták elemzését is hígítás nélkül, lerövidítve ezzel a mintaelőkészítési időt.
  • Jel csökkenés minimalizálása – A HMI kiküszöböli a jel gyengülését, így a magas mátrix tartalmú mintákat is pontosan lehet mérni mátrix azonos kalibráló standardok nélkül.
  • Pontos adatok biztosítása hatékony interferencia szűréssel – A hélium (He) ütközési mód egyszerűsíti a módszerfejlesztést és a rutin működést azáltal, hogy eltávolítja a poliatomos ion interferenciákat. A He módban nem szükséges mátrix- vagy analit-specifikus reakció cella.
  • Fő komponensek és nyomelemek mérése egyidejűleg – A széles dinamikus tartományú ortogonális detektorrendszer (ODS) lehetővé teszi a fő komponensek (100 vagy 1000 ppm) és nyomelemek (egy ppt vagy ppt alatti) közvetlen elemzését egyetlen futtatásban. A magas felső koncentrációs határ csökkenti a méréshatáron túlmenő eredmények által okozott újramérések számát.
  • Teljesítmény és termelékenység maximalizálása – Az opcionális integrált minta bevezető rendszer (ISIS 3) és az SPS 4 automata mintaadagoló csökkenti az elemzési költségeket anélkül, hogy veszélyeztetné az adatminőséget.
Letölthető anyagaink

Kapcsolódó termékek